Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
Термин
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
Термин на английском
X-ray photoelectron spectroscopy
Синонимы
электронная спектроскопия для химического анализа
Аббревиатуры
РФЭС, XPS, ЭСХА, ESCA
Связанные термины
рентгеновская спектроскопия, ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия
Определение
разновидность фотоэлектронной спектроскопии, в которой для возбуждения фотоэлектронов используется рентгеновское излучение, и которая служит для зондирования глубоких (остовных) электронных уровней.
Описание
Лабораторные источники для РФЭС - это рентгеновские трубки, в которых рентгеновское излучение создается бомбардировкой мишени высокоэнергетическими электронами. Обычные материалы мишени - это Mg и Al, обеспечивающие излучение с энергией фотонов 1253,6 эВ и 1486,6 эВ, соответственно. Поскольку вероятность фотоэмиссии максимальна при энергии фотонов, близкой к порогу ионизации, и быстро уменьшается, когда энергия фотонов значительно превосходит энергию связи электрона, РФЭС - это метод исследования глубоких остовных уровней. В спектрах РФЭС остовные уровни проявляют себя в виде острых пиков. Энергетическое положение пиков дает информацию о том, какие химические элементы присутствуют в образце, а также об их химическом окружении, которое проявляется в так называемых химических сдвигах - смещениях положения пика на величину от 1 до 10 эВ при образовании химической связи. Интенсивность пика дает информацию о концентрации данного элемента в образце, поэтому РФЭС наиболее часто используется для анализа химического состава образцов.
Альтернативное название метода - электронная спектроскопия для химического анализа (ЭСХА) - было введено основателем метода К.И. Зиебаном (K.M. Siegbahn), получившим в 1981 году Нобелевскую премию по физике "за вклад в развитие высокоразрешающей электронной спектроскопии". В настоящее время термин ЭСХА широко уже не используется.
Авторы
Ссылки
Разделы
Аналитические методы (в том числе анализ поверхности)
Методы локального и нелокального (Auger, XPS) анализа поверхности
Методы диагностики и исследования наноструктур и наноматериалов
| Главная |