Просвечивающая электронная микроскопия
Термин
просвечивающая электронная микроскопия
Термин на английском
transmission electron microscopy
Аббревиатуры
ПЭМ, TEM
Связанные термины
микроскоп, микроскопия, просвечивающий электронный микроскоп, электронная микроскопия, электронный микроскоп, электронная томография
Определение
разновидность микроскопии, в которой для получения увеличенного изображения или дифракционной картины используются электроны, прошедшие через образец.
Описание
Для изучения внутренних деталей методом ПЭМ обычно требуются образцы толщиной менее 100-200 нм. Чем больше толщина образца, тем больше должно быть ускоряющее напряжение пучка электронов.
ПЭМ может быть использован для визуализации атомных плоскостей и колонок с разрешением порядка 0.2 нм. Разновидность ПЭМ, используемая в этом случае, часто рассматривается как самостоятельный метод исследования - просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения (high resolution transmission electron microscopy (HREM, HRTEM))
Электронный микроскоп с использованием дополнительных детекторов позволяет реализовать различные методики микроанализа образцов - спектроскопию энергетических потерь электронов, рентгеноспектральный микроанализ и др.
Cм. также статью "электронная микроскопия".
Авторы
Ссылки
Разделы
Просвечивающая электронная микроскопия, в том числе высокого разрешения
Методы диагностики и исследования наноструктур и наноматериалов
| Главная |